要点 1.现在，除了高端智能手机和平板电脑以外，用户还期望在其它应用中使用触摸屏，它们正逐步现身于汽车和仪器中。 2.在电容式触摸屏与较廉价但响应不快的电阻触摸...
IC外观检测常见要求：关键点：丝印、主体、管脚丝印要求：清晰、完整、正确、位置统一、字体规则、logo规范、模号及产地凹印、PIN1明显主体要求：尺寸规范、裂痕、残缺、刮伤、溢胶、变形、漏底材等符合标准管脚要求...
时间：2012-07-05 阅读：6525 关键词：IC外观检测，元器件外观检测常见要求AAA3A外观检测
摘摇要：通过对二极管的反向恢复过程及相关应用的研究，指出二极管反向恢复时间测试的必要性，综合比较了三种现有的反向恢复时间的测试方法的优缺点，提出并设计了一个测量...
时间：2012-03-15 阅读：12069 关键词：高压二极管的反向恢复时间测试系统
现在的电子产品往往由于一块集成电路损坏，导致一部分或几个部分不能正常工作，影响设备的正常使用。那么如何检测集成电路的好坏呢？通常一台设备里面有许多个集成电路，当拿到一部有故障的集成电路的设备时，首先要...
时间：2011-09-16 阅读：6211 关键词：集成电路故障检测方法介绍集成电路
精彩无限，尽在维库技术资料 tgdrjb.cn/data 摘要：文中介绍了测量电容式传感器电容的一般方法，并针对AMG公司开发的电容式信号转换成电压信号的集成电路CAV424 作了...
时间：2011-09-08 阅读：4057 关键词：用于电容传感器信号转换的集成电路CAV424电容传感器
设计电子电路时除关心电路的主要性能指标外，针对具体情况可能还会提出一些其它指标。比如设计放大电路时，除了关注它的五种主要性能指标（输入电阻、输出电阻、增益、频率响应和非线性失真系数）外，针对不同用途的...
时间：2011-09-08 阅读：1769 关键词：设计电子电路的性能指标电子电路
自从美国Intel公司1971年设计制造出4位微处理器芯片以来，在20多年时间内，CPU从Intel4004、80286、80386、80486发展到Pentium和PentiumⅡ，数位从4位、8位、16位、32位发展到64位；主频从几兆到今天的
时间：2011-09-01 阅读：3486 关键词：集成电路
1TTL电平：输出高电平>2.4V,输出低电平<0.4V。在室温下，一般输出高电平是3.5V，输出低电平是0.2V。最小输入高电平和低电平：输入高电平>=2.0V，输入低电平<=0.8V，噪声容限是0.4V。2CMOS电平：
时间：2011-08-22 阅读：1283 关键词：TTL与CMOS相关知识TTL与CMOS
摘要：集成电路（IC）老化测试插座（以下简称老化测试插座）主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合，其的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座...
摘要：时钟数据恢复（CDR）电路是高速数据传输系统的重要组成部分。文章介绍了一种半数字二阶时钟数据恢复电路的基本结构、工作原理和设计方法，并进行了仿真和验证，结果...
时间：2011-07-25 阅读：14538 关键词：应用于高速串行收发器的CDR电路的设计
摘 要： 集成电路静电放电模拟器是微电子元器件可靠性筛选的重要设备，通过模拟静电放电对器件的抗静电能力进行筛选。本文在分析静电放电模拟器工作原理的基础上，利用高频...
时间：2011-07-25 阅读：10267 关键词：集成电路静电放电模拟器校准与测量不确定度
众所周知，传统的IC设计流程通常以文本形式的说明开始，说明定义了芯片的功能和目标性能。IC设计，Integrated Circuit Design，或称为集成电路设计，是电子工程学和计算机...
时间：2011-07-22 阅读：2367 关键词：全新的深亚微米IC设计方法
美国国家半导体公司（National Semiconductor Corp.）（美国纽约证券交易所上市代码：NSM）宣布推出两款可配置的传感器模拟前端（AFE）集成电路，两款产品采用美国国家半导...
时间：2011-07-21 阅读：7002 关键词：NS 推出可配置的传感器模拟前端（AFE）解决方案
光电耦合器广泛应用于可编程序控制器、变频器、家用电器、工业生产等各个行业的电子装置中，其作用众所周知：信号的隔离、耦合传输，对电子装置高压系统电路发生故障，不会...
时间：2011-07-21 阅读：8918 关键词：简易光耦芯片测试电路TLP621TLP6214
