嵌入式FPGA:改变芯片设计方式
出处:维库电子市场网 发布于:2023-11-08 16:02:17
FPGA 在可编程互连结构中组合了一系列可编程/可重新配置逻辑块。在 FPGA 芯片中,芯片的外缘由 GPIO、SERDES 和专用 PHY(例如 DDR3/4)的组合组成。在 FPGA 中,I/O 环大约占芯片的 1/4,“结构”大约占芯片的 3/4。在当今的 FPGA 芯片中,“结构”本身主要是互连,其中 20-25% 的结构区域是可编程逻辑,75-80% 是可编程互连。
嵌入式 FPGA 内部:原始构建模块
FPGA 中的可编程逻辑块是一个查找表 (LUT),可以通过编程实现任何布尔函数:4、5 或 6 个输入以及 1 个或 2 个输出。
在 Flex Logix EFLX 阵列中,LUT 是双 4 输入 LUT,可以组合形成 5 输入 LUT。LUT 输出可选择存储在中。LUT 通常分为四个组,并带有进位逻辑,以方便加法器和移位器。
另一个可编程逻辑块是 MAC(乘法器累加器)或 DSP 加速器块。
在Flex Logix EFLX阵列中,有一个22位预加器、一个22x22乘法器和一个4位后加器/累加器。MAC 可以组合或级联以形成快速的 DSP 功能。
对于嵌入式 FPGA 来说,情况是一样的,因为几乎所有 SoC 都有 ARM/ARC/MIPS/等。从外部闪存启动的处理器。同一闪存用于存储嵌入式闪存的配置位。
可编程逻辑块接收输入并将输出发送到互连网络,该互连网络允许以可编程方式与 FPGA 结构中的任何逻辑块建立连接。互连结构也通过配置位进行编程。互连结构通常是 FPGA 结构的主体。
嵌入式 FPGA 的一个主要区别在于互连结构的设计。的互连使用更少的面积和更少的金属层,同时提供高资源利用率。
与 FPGA 芯片不同,嵌入式 FPGA 中没有 PHY/SERDES/PLL。有一个“I/O”环,但它实际上是与芯片其余部分的简单数字互连。嵌入式 FPGA 将具有数百到数千个互连,可以在芯片内全速运行。I/O 宽度和带宽的增加是在芯片中嵌入 FPGA 的巨大优势。
复杂性之一是客户需要各种尺寸和配置的嵌入式 FPGA,并且每个人都希望 IP 模块在芯片中使用之前经过硅验证。
例如,在 16nm 中,一位客户可能只需要几百个可编程逻辑 LUT,即可实现在约 1GHz 下运行的快速可重新配置控制逻辑;而同一流程中的另一个客户可能需要 50K-100K LUT 用于数据中心处理器加速器。如何才能以少的设计投资和快的上市时间让这些客户满意?
Flex Logix 使用可平铺的构建块方法。首先,使用上述方法设计了4个EFLX IP核。每个 IP 核都是独立的 FPGA,但它们也可以通过逻辑/DSP 的任意组合进行排列以提供 EFLX 阵列,总共约 75 个,从 100 个 LUT 到 122.5K LUT。
EFLX-100 阵列多达 5x5 或 3,000 个 LUT(EFLX-100 中实际上有 120 个 LUT)。
EFLX-2.5K 接管了 2500 个 LUT 和多达 122.5K LUT 的阵列。
阵列可以是全逻辑或全 DSP 或两种类型内核的任意混合,如下所示:
嵌入式 FPGA 内部:证明硅中的构建模块
Flex Logix 构建验证芯片来验证硅中的 IP 核。以下是 TSMC 40ULP 中的示例。
在此过程中,客户使用多种 VT(电压阈值模板)组合,Flex Logix 设计的 EFLX 阵列与所有可能的组合兼容。因此,验证芯片有五个阵列:一个大阵列(4x4)采用需要的 VT 组合,四个 2x2 阵列采用其他四种尺寸。
由于 40nm 的 EFLX 阵列可以在高达 300MHz 的频率下运行,而 GPIO 仅在约 150MHz 时可靠,因此有一个片上 PLL 可以生成非常快速、的时钟来测试性能,并且有 SRAM 可以启用“测试向量库” ”被加载然后全速运行,结果输出到另一个银行。这提供了“芯片上的”,以便可以在高于 GPIO 速度的情况下验证全速操作。还有温度/电压,以确保在目标、坏情况条件下进行测试。
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