二极管和跌落测试
出处:维库电子市场网 发布于:2023-02-25 17:31:30
“不!不要那样做,”回答说。切断该连接可能会在设备中产生机械脉冲,从而损坏半导体。
导致芯片损坏的机械脉冲。保持这个想法。
近有人来找我讨论一个问题,其中一个特定的在对设备进行机械跌落测试后会短路。这种情况会又地发生。关于 2N918 问题的想法又回来了。
由于机械冲击似乎是故障触发因素,我建议看一下连接到二极管接线端的刚性或柔性。请参见图 1。
如果那根的硬度足以支撑联合国大楼的一个翼楼,那么它可能会在跌落测试期间将机械脉冲传送到二极管的封装中。然后,这些脉冲可以传输到不太可能经受住侮辱的半导体芯片本身。
我建议二极管连接保持灵活,并进一步建议使用灵活的编织物代替刚性电线可以实现这一点。
有时这是简单的事情。但我再也没有听说过有关失效二极管的消息。
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